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網(wǎng)絡(luò )分析儀內部功分器和定向耦合器分別完成對被測件輸入信號和反射信號的提取。其中當要測試被測件某個(gè)端口反射特性時(shí)，必須將定向耦合器直接連接在該測試端口上。

這兩部分統稱(chēng)為信號分離裝置，這部分硬件也通常被測試為“測試座”，在一些特殊測試場(chǎng)合(大功率測試等)可不使用網(wǎng)絡(luò )分析儀表一體化的內置測試座，而使用外置測試座設備。

電橋用于反射性能測試，電橋可覆蓋很寬頻率范圍，電橋的主要缺點(diǎn)是對傳輸信號有較大損耗。因此對于給定的信號源功率。結果導致輸入到被測件的功率損失。

定向耦合器負責分離反射測試中的激勵信號和反射信號，這個(gè)功能也可由電橋完成，與定向耦合器相比，電橋可覆蓋更寬的頻率范圍，單其對測試的傳輸信號有較大損耗。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

基于VNA的測試系統為測量無(wú)線(xiàn)通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動(dòng)力。與傳統VNA相比，Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀的先進(jìn)體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過(guò)一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個(gè)信號源和內部寬帶信號合路器，從而簡(jiǎn)化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外，兩個(gè)信號源還可用于IMD、相位隨驅動(dòng)的變化、熱態(tài)S參數和真實(shí)激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。

矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀測量時(shí)，經(jīng)常會(huì )用到的一個(gè)參數就是S參數，S參數是射頻通信領(lǐng)域應用的一種測量參數，全稱(chēng)是散射參數，是網(wǎng)絡(luò )分析的語(yǔ)言。矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀對S參數進(jìn)行測量時(shí)，會(huì )有S11、S21、S12、S22四種不同的情況，其中S11和S21是兩個(gè)比較重要的參數，這兩個(gè)參數可以表征網(wǎng)絡(luò )的性能。網(wǎng)絡(luò )分析儀測量的是S參數，很多朋友不知道S參數到底指的是什么，其實(shí)S參數的全稱(chēng)是散射參數，它是網(wǎng)絡(luò )分析的語(yǔ)言。